2 Replies Latest reply on Jun 19, 2020 12:33 AM by NoTa_4591161

    Community Translation - ECC Injection Tests in Traveo MCUs - KBA225469

    NoTa_4591161

      Hi,               

       

      I would like to translate KBA225469 into Japanese.

      Please confirm to my work.

       

      Thanks,

      Kenshow

        • 1. Re: Community Translation - ECC Injection Tests in Traveo MCUs - KBA225469
          JuyoungJ_06

          Hi, Kenshow-san

          Confirm to work this KBA.

           

          Thanks

          Jenna

          • 2. Re: Community Translation - ECC Injection Tests in Traveo MCUs - KBA225469
            NoTa_4591161

            Hi Jenna-san,

                                          

            Japanese translation was over.
            Please check below.

             

            Original KBA:

            ECC Injection Tests in Traveo MCUs - KBA225469

             

            Thanks.

            Kenshow

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            タイトル: Traveo MCUのECCインジェクションテスト - KBA225469

             

            バージョン:**

             

            このガイドでは、Traveo MCUのエラー修正コード(ECC)インジェクションテストについて説明します。

             

            Traveo MCUには、シングルビットエラーの検出と修正、または2ビットエラーの検出に役立つ組み込みのECCロジックがあります。この組み込みのECCロジックは、TCRAMTCFLASHVRAM、ワークフラッシュ、IRCベクトルアドレスRAMCAN FD RAMSYSRAMなどのTraveo MCUの多くの周辺メモリ内で使用できます。

             

            Traveo MCUは、データ破損をシミュレートし、ECCロジックがこれらのエラーを検出または修正できるかどうかをチェックできる必要なハードウェアとテストレジスタ(インジェクションレジスタと呼ばれる)も提供します。これらのテストは、製品設計に関連する機能安全モジュールの一部として実行できます。

             

            このガイドでは、これらのインジェクションレジスタの詳細と、それらを使用してエラーをシミュレートする方法に焦点を当てています。このガイドには、周辺メモリ内で使用可能なECC機能をテストするために使用できるサンプルコードフラグメントも含まれています。

             

             

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            19-June-2020

            Kenshow