CY8C24X94测量IOT薄膜触摸屏的时候，检测不到； 查看手册，我用了CSDADC，PRS8 PWM 去检测，但是还是只能测量普通触摸，不能测IOT薄膜的。 然后继续根据手册，发现有个函数；CSDADC_ScanSenforsAveraging(), 手册介绍，用这个函数可以扫描IOT的触摸数据，但是我把结果传出来后，发现，所有的值都是跟第一个触摸值一样的，是不是我还有哪里没设置对；

[kila_4599546]

CY8C24X94测量IOT薄膜触摸屏

[Vison_Zhang · Accepted solution]

你说的是 ITO 膜吧。

触摸芯片并不 care 前级的触摸 sensor 材质是铜皮，导电油墨，碳纳米棒还是 ITO材料。你遇到的问题应该是当前的调试参数比较适合普通的铜皮 Sensor, 不适合串阻较大的  ITO  sensor。 你现在要做的是阅读 CSDADC 组件的调试手册（AN66271 - CY8C21x34/B CapSense® Design Guide），根据手册调试步骤来调试 CapSense 组件的各项参数来适应 ITO sensor。

CSDADC_ScanSensorAveraging() 函数实现的功能是连续多次采集当前 sensor 的 rawdata 值并做平均运算，这个操作可以有效的降低 sensor rawdata 的波动范围，提高 sensor 的 SNR， 但是它并不能增加 sensor 的信号量。

[kila_4599546]

你好，现在我们公司的是 CY8C24X94，但是CY8C24X94 的CSD参数设置里，为什么没有reference参数设置；我下面的参数设置是否有问题？

[Vison_Zhang]

你给的截图是  CY8C21X34 芯片的 CapSense 配置项把，PSoC1 不同 family part 的 CapSense 架构并不是完全一样的， 所以参数也有微小的差别，如果对某配置项有异议，查看组件数据手册就可以了。 至于你的配置有没有问题，我不清楚，参数是否合适需要根据实际的调试结果来定。