6 29, 2021
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6 29, 2021
12:08 AM
GL-SシリーズのECC機能ですが、有効であればSER(放射線による一過性の故障)によるbitエラー問題は発生しないという認識であっていますでしょうか。
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Memory Nor Flash
1 解決策
6 29, 2021
01:04 AM
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6 29, 2021
01:04 AM
SER(放射線による一過性の故障)によるbitエラーはメモリセルに保持された電子が放射線と衝突することによって発生します。
自動ECC機能の有効・無効に関わらず、SERは確率的に起こり得ます。
自動ECC機能が有効であればPageサイズ(8/16word)あたり1bitのエラーを検出・訂正ができます。
自動ECC機能の有効・無効に関わらず、SERは確率的に起こり得ます。
自動ECC機能が有効であればPageサイズ(8/16word)あたり1bitのエラーを検出・訂正ができます。
1 返信
6 29, 2021
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6 29, 2021
01:04 AM
SER(放射線による一過性の故障)によるbitエラーはメモリセルに保持された電子が放射線と衝突することによって発生します。
自動ECC機能の有効・無効に関わらず、SERは確率的に起こり得ます。
自動ECC機能が有効であればPageサイズ(8/16word)あたり1bitのエラーを検出・訂正ができます。
自動ECC機能の有効・無効に関わらず、SERは確率的に起こり得ます。
自動ECC機能が有効であればPageサイズ(8/16word)あたり1bitのエラーを検出・訂正ができます。