May 17, 2020
07:19 PM
- Mark as New
- Bookmark
- Subscribe
- Mute
- Subscribe to RSS Feed
- Permalink
- Report Inappropriate Content
May 17, 2020
07:19 PM
Hi Jenna-san,
I want to translate KBA228164, please confirm to my work.
Thanks and regards,
2 Replies
May 17, 2020
10:12 PM
- Mark as New
- Bookmark
- Subscribe
- Mute
- Subscribe to RSS Feed
- Permalink
- Report Inappropriate Content
May 17, 2020
10:12 PM
Hello,
I will confirm to work this KBA.
Please work to do.
Thanks,
Jenna
Jenna Jo
May 18, 2020
05:51 PM
- Mark as New
- Bookmark
- Subscribe
- Mute
- Subscribe to RSS Feed
- Permalink
- Report Inappropriate Content
May 18, 2020
05:51 PM
Hi Jenna-san,
I have translated KBA228164.
_/_/_/_/_/_/_/_/_/_/_/_/_/_/_/_/_/_/_/_/_/
【タイトル】
Cypress S29GL512Tのシングルアップセット・クロスセクションとシングルイベントラッチアップの発生率について - KBA228164
【内容】
Cypress S29GL512TのNOR Flash Memoryはソフトエラーの影響を受けません。内蔵ECCを使用することにより、不具合は発生していません。
また、テスト結果から低い発生確率のシングルイベントラッチアップが観察されました。FITレートは <2.83 FIT/deviceです。
シングルイベントラッチアップのテスト結果
Mode 製品シリーズ | Average SEL FIT Rate [FIT/Dev] 平均SEL FITレート[FIT/Dev] | VT - Condition 温度、電圧 | CY Specs Target FIT Rate [FIT/Dev] CypressターゲットFITレート [FIT/Dev] | Remark 結果 |
GL512T NOR Flash | <2.83 | 105C, 3.6V | 10 | PASSED |