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Community Translations

keni_4440091
Esteemed Contributor

Dear supporter

I want to translate the following KBA. Please confirm to my work.

Change ECC configuration to dual error detection (DED) mode in S26KL/KS-S HYPERFLASH™ - KBA233612

Regards,

Nino

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2 Replies
JennaJo
Moderator
Moderator

Hi, Nino-san

Confirm to work this KBA.

Thanks,

Jenna 

Jenna Jo
0 Likes
keni_4440091
Esteemed Contributor

Dear Jenna

The following shows the translated version in Japanese for targeted KBA.

Please conform and double check.

Regards,

Nino

ーーーーーーーーーーーーーーーーーーーーーーーーーーー

S26KL/KS-S HYPERFLAHTMECC構成をデュアルエラー検出(DED)モードに変更する - KBA233612

 

Version: **

 

ASP構成レジスタビット9ASPR[9])に「0」をプログラムすることによってDEDモードを有効化できます。

DEDモードを有効にする際に、以下の注意事項を考慮してください。

  1. ASPRは不揮発性のワンタイムプロフラム(OTP)ビットを保持しています。ASPR[9]に「0」をプログラムすることでDEDを有効にした後、ビットを「1」に戻せません。
  2. DEDモードでは、同じ16バイトのハーフページ(消去無し)に複数のプログラム動作は許可されていません。同じ16バイトのハーフページに、複数回のプログラムの実施は、プログラムで失敗します。
  3. DEDモードを有効にする前にflashに任意のデータをプログラムすると、シングルビットエラー訂正(SEC)機能に基づいたデータのECCを生成します。DED機能によってSEC-based ECCを読むと、未定義の動作を起こします。その結果、ノンバンクセクターは、ECC構成をDEDモードに変更する前に消去される必要があります。

 

Labels  Other

Tags: dual error detection ecc hyperflash kl-s ks-s nor flash SEC secded two bits error detection

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