具体应用情况如下:
MCU为ST公司的STM32F103VET6. 通讯方式:SPI全双工,通讯速率:9.216MHZ(后期:降低到4.608MHZ 1.152MHZ故障依旧)。
硬件电路:
PCB布局:
故障芯片图片(批次)(图中焊接引线,为出现问题后,方便逻辑分析仪读取数据。)
故障现象:
我们使用FM25CL64B,存储MCU运行过程中所需的参数信息。 在设备运行一段时间后。读取FRAM中的数据,会出现器件不响应读取命令的情况。 当故障现象出现后的一端时间会复现故障。但在不改变外部环境的情况下,故障会随机消失。芯片依旧可以正常工作。 此种现象,在其他批次的同种芯片中,没有出现过。
出现概率:这个小批次,数量200片。 出现此故障现象的问题芯片:10片左右。
后期,我们专门编写了一段试验程序. 功能如下: 初始化FRAM后,循环在FM25CL64中写满8K byte的数据。数据内容为1~255的序列。 分8次写入,每次1K bytes。然后读取,FM25CL64B的全部数据内容。分8次读取,每次读取1K bytes。
已解决! 转到解答。
可以申请对该批次芯片做原厂鉴别,www.cypress.com > My account > Mycases > 选择 Product Quality(如下图),提供问题芯片清晰的顶面和底面图(丝印字符清晰可辨认)。
发达整个写入过程:
故障出现时的现象:
每次读取1K bytes,在经过一个不定期的时间,会出现,MCU发出读取命令,FRAM中,某一次读取,不响应的情况
此后,马上读取,状态寄存器。有时会是正确的。有时无响应。
故障出现时的现象:
该现象随机发生。 (仅仅针对这个批次)。 发生后,可复现多次。 而后,故障现象会随机消失。芯片恢复正常。 对于其他批次芯片,同样方式验证,均未出现过类似现象。
请专家,帮我解答下,出现此问题的原因,和错误。 或者,我是否可以,申请,对该批次芯片座原厂鉴别。
问题IC 批次。
出问题情况下的逻辑分析仪捕获:
9.216mhz下的时钟波形。(降低频率至1mhz,现象依旧。 感觉与频率关系不大)
MISO 输出:
今天,在出现故障批次上,其中一片能够频繁显现故障的IC上,降低通讯速度到576KHZ,示波器测量不行已经很完整。 但是问题依旧。在运行一定的时间后,可以捕获到一次读取失败的情况。
Start read 放大。(因为怀疑状态寄存器问题,每次读写都初始化了一次状态寄存器)
Read failure放大。(读取第一个1K字节时正常,紧接着读取第二个1K,芯片没有相应)
RSDR放大(紧接着,发读取状态寄存器命令,依然无相应)
该问题,主要出现在上图批次。其他批次芯片,目前没有发现问题问题。 请专家帮我分析下,问题原因。
可以申请对该批次芯片做原厂鉴别,www.cypress.com > My account > Mycases > 选择 Product Quality(如下图),提供问题芯片清晰的顶面和底面图(丝印字符清晰可辨认)。
感谢您的支持。已经按照您的指引,申请原厂鉴别。