FM25CL64B在其中一个批次,出现读取不稳定情况。

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cross mob
user_4757416
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具体应用情况如下:

MCU为ST公司的STM32F103VET6. 通讯方式:SPI全双工,通讯速率:9.216MHZ(后期:降低到4.608MHZ  1.152MHZ故障依旧)。

硬件电路:

pastedImage_0.png

PCB布局:

pastedImage_1.png

故障芯片图片(批次)(图中焊接引线,为出现问题后,方便逻辑分析仪读取数据。)

故障现象:

我们使用FM25CL64B,存储MCU运行过程中所需的参数信息。 在设备运行一段时间后。读取FRAM中的数据,会出现器件不响应读取命令的情况。 当故障现象出现后的一端时间会复现故障。但在不改变外部环境的情况下,故障会随机消失。芯片依旧可以正常工作。 此种现象,在其他批次的同种芯片中,没有出现过。

出现概率:这个小批次,数量200片。 出现此故障现象的问题芯片:10片左右。

后期,我们专门编写了一段试验程序. 功能如下: 初始化FRAM后,循环在FM25CL64中写满8K byte的数据。数据内容为1~255的序列。 分8次写入,每次1K bytes。然后读取,FM25CL64B的全部数据内容。分8次读取,每次读取1K bytes。

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Roy_Liu
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可以申请对该批次芯片做原厂鉴别,www.cypress.com > My account > Mycases > 选择 Product Quality(如下图),提供问题芯片清晰的顶面和底面图(丝印字符清晰可辨认)。

pastedImage_0.png

Roy Liu

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user_4757416
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LJ2.jpgLJ7.jpg

发达整个写入过程:

LJ3.jpg

LJ4.jpg

故障出现时的现象:

LJ5.jpg

每次读取1K bytes,在经过一个不定期的时间,会出现,MCU发出读取命令,FRAM中,某一次读取,不响应的情况

LJ6.jpg

此后,马上读取,状态寄存器。有时会是正确的。有时无响应。

故障出现时的现象:

LJ7.jpgLJ7.jpg

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该现象随机发生。 (仅仅针对这个批次)。 发生后,可复现多次。 而后,故障现象会随机消失。芯片恢复正常。  对于其他批次芯片,同样方式验证,均未出现过类似现象。

请专家,帮我解答下,出现此问题的原因,和错误。  或者,我是否可以,申请,对该批次芯片座原厂鉴别。

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IC.jpg

问题IC 批次。

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出问题情况下的逻辑分析仪捕获:

BH2.jpg

9.216mhz下的时钟波形。(降低频率至1mhz,现象依旧。 感觉与频率关系不大)

CLK.jpg

MISO 输出:

MISO.jpg

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今天,在出现故障批次上,其中一片能够频繁显现故障的IC上,降低通讯速度到576KHZ,示波器测量不行已经很完整。 但是问题依旧。在运行一定的时间后,可以捕获到一次读取失败的情况。

S_READ500K.jpg

Start read 放大。(因为怀疑状态寄存器问题,每次读写都初始化了一次状态寄存器)

SREAD.jpg

Read failure放大。(读取第一个1K字节时正常,紧接着读取第二个1K,芯片没有相应)

FREAD.jpg

RSDR放大(紧接着,发读取状态寄存器命令,依然无相应)

EREAD.jpg

该问题,主要出现在上图批次。其他批次芯片,目前没有发现问题问题。 请专家帮我分析下,问题原因。

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Roy_Liu
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可以申请对该批次芯片做原厂鉴别,www.cypress.com > My account > Mycases > 选择 Product Quality(如下图),提供问题芯片清晰的顶面和底面图(丝印字符清晰可辨认)。

pastedImage_0.png

Roy Liu
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user_4757416
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感谢您的支持。已经按照您的指引,申请原厂鉴别。

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