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Hi,
I would like to translate KBA203740 into Japanese.
Please confirm to my work.
Thanks,
Kenshow
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Hi, Kenshow-san
Confirm to work this KBA.
Thanks
Jenna
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Hi Jenna-san,
Japanese translation was over.
Please check below.
Original KBA:
Thanks.
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タイトル: 長期間にわたってストレージに保管されているサイプレスフラッシュデバイスがあります。アプリケーションでパーツが機能することを確認するにはどうすればよいですか?-KBA203740
バージョン:*B
質問:
長期間保管されているサイプレスフラッシュデバイスがあります。アプリケーションでパーツが機能することを確認するにはどうすればよいでしょうか?
回答:
長期間保管されたフラッシュデバイスを検査する場合は、最初に真空密閉バッグと湿度インジケータカードを調べて、水分がバリアバッグに浸透しているかどうかを確認する必要があります。さらに、はんだ付け性などの予備テストや、古い材料を使用した限定的なトライアルランをお勧めします。「パッケージ化された半導体IC製品の長期保管」アプリケーションノートは、追加の役立つ情報を提供する場合があります。
http://www.cypress.com/file/210766/download
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10-August-2020