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Hi,
I would like to translate KBA225469 into Japanese.
Please confirm to my work.
Thanks,
Kenshow
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Hi, Kenshow-san
Confirm to work this KBA.
Thanks
Jenna
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Hi Jenna-san,
Japanese translation was over.
Please check below.
Original KBA:
ECC Injection Tests in Traveo MCUs - KBA225469
Thanks.
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タイトル: Traveo MCUのECCインジェクションテスト - KBA225469
バージョン:**
このガイドでは、Traveo MCUのエラー修正コード(ECC)インジェクションテストについて説明します。
Traveo MCUには、シングルビットエラーの検出と修正、または2ビットエラーの検出に役立つ組み込みのECCロジックがあります。この組み込みのECCロジックは、TCRAM、TCFLASH、VRAM、ワークフラッシュ、IRCベクトルアドレスRAM、CAN FD RAM、SYSRAMなどのTraveo MCUの多くの周辺メモリ内で使用できます。
Traveo MCUは、データ破損をシミュレートし、ECCロジックがこれらのエラーを検出または修正できるかどうかをチェックできる必要なハードウェアとテストレジスタ(インジェクションレジスタと呼ばれる)も提供します。これらのテストは、製品設計に関連する機能安全モジュールの一部として実行できます。
このガイドでは、これらのインジェクションレジスタの詳細と、それらを使用してエラーをシミュレートする方法に焦点を当てています。このガイドには、周辺メモリ内で使用可能なECC機能をテストするために使用できるサンプルコードフラグメントも含まれています。
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19-June-2020