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S29GL-S/GL-Pは出荷時にErase、Read/Writeチェックを行っていますでしょうか。
現在、Flashを搭載した基板に対し、製造/出荷時に
全面Erase、
とあるパターンをWrite、
Readしてチェック、
違うパターンをWrite、
Readしてチェック、
全面Erase
という工程を経ています。
出荷時にEraseがされていてAll FFであることと、デバイス自体に(出荷試験時に)
全領域にR/Wチェックが入っていれば、この工程が省けるのですが、その可否が
データシート等から読み取れませんでした。
GL-Sにはデータシート
When shipped from Cypress all Sectors are erased.
という一文があり、All FFになっているようなのですが、GL-Pには
同様の記載がありませんでした。
Read/Writeチェックについてはデータシートに記載がありません。
(データシートに載せる項目ではないかとは思いますが)
以上です。
解決済! 解決策の投稿を見る。
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Parallel NOR
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Cypress Flash Memory製品は出荷テストにてRead / Program / Erase試験は実施されています。
そして、出荷テストの最後にEraseを実施しておりますので、出荷時はAll FFで出荷されます。
宜しくお願いいたします。
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Cypress Flash Memory製品は出荷テストにてRead / Program / Erase試験は実施されています。
そして、出荷テストの最後にEraseを実施しておりますので、出荷時はAll FFで出荷されます。
宜しくお願いいたします。
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ご回答ありがとうございます。
Eraseは全領域のようですが、Read/Program試験も全領域で実施している
という理解で正しいでしょうか。
宜しくお願いします。
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はい、Program / Readも全領域に対して実施されています。
宜しくお願いいたします。