Traveo MCUのECCインジェクションテスト - KBA225469 - Community Translated (JA)

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    Translation - English: ECC Injection Tests in Traveo MCUs - KBA225469

     

    このガイドでは、Traveo MCUのエラー修正コード(ECC)インジェクションテストについて説明します。

     

    Traveo MCUには、シングルビットエラーの検出と修正、または2ビットエラーの検出に役立つ組み込みのECCロジックがあります。この組み込みのECCロジックは、TCRAMTCFLASHVRAM、ワークフラッシュ、IRCベクトルアドレスRAMCAN FD RAMSYSRAMなどのTraveo MCUの多くの周辺メモリ内で使用できます。

     

    Traveo MCUは、データ破損をシミュレートし、ECCロジックがこれらのエラーを検出または修正できるかどうかをチェックできる必要なハードウェアとテストレジスタ(インジェクションレジスタと呼ばれる)も提供します。これらのテストは、製品設計に関連する機能安全モジュールの一部として実行できます。

     

    このガイドでは、これらのインジェクションレジスタの詳細と、それらを使用してエラーをシミュレートする方法に焦点を当てています。このガイドには、周辺メモリ内で使用可能なECC機能をテストするために使用できるサンプルコードフラグメントも含まれています。