長期間保管されているFlash Memoryにおいて、発生が懸念される信頼性の問題について - KBA203743 - Community Translated (JA)

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    Translation - English: What Kind of Reliability Issues May Be Experienced with Flash Devices that Have Been in Storage for an Extended Amount of Time? - KBA203743

     

    質問:

    長期間保管されているFlash Memoryは、どのような信頼性の問題が発生する可能性がありますか?

     

    回答:

    例え長期間保管されていたとしても、製品の機能と信頼性は影響を受けません。

    但し、湿気の侵入に伴う腐食、または汚染によって、パッケージのリード、または半田ボールが半田ペーストに完全に濡れず、

    その結果、プリント配線基板への半田未形成、または不完全な接続が生じる可能性があります。

    従って、Cypressは長時間保管されたFlash Memoryは量産に使用する前に半田付け性試験と基板実装評価の実施を推奨します。

    また、アプリケーションノートの "Long Term Storage Of Packaged Semiconductor IC Product" は役立つ追加情報を掲載しています。

    http://www.cypress.com/file/210766/download