CapSense CSD信号の最適化 - KBA226833 - Community Translated (JA)

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    Translation - English: Optimize CapSense CSD Signal in Firmware - KBA226833

     

    質問:

    CapSense® センサを調整すると rawカウントが低くなりますが、ファームウェアで rawカウントを最適化するにはどうすればよいですか?

     

    回答:

    タッチ信号を最適化するには、rawカウントに直接影響するパラメーターを更新する必要があります。rawカウントは AN85951 の式3-9 3-10 3-11および3-12で示され、タッチ時に理想的な差分カウントを方程式から得ることができます。

     

     

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       CF は指の静電容量です。次の表に、AN85951 の表3-1にリストされている CapSense コンポーネントパラメーターを示します。

     

    パラメータ

    説明

    rawカウントへの影響

    N

    スキャン分解能

    スキャン解像度を上げると、指のタッチ信号が増える可能性があります。CapSense コンポーネントは、Nが増加した後、より多くのrawカウントをサンプリングするため、センサでより多くの充電/放電サイクルを必要とするため、スキャン時間も増加します。

    VREF

    内部基準電圧

    IDACソースモードの場合、内部基準電圧を上げると、指のタッチ信号が増えます。IDACシンクモードでは、IDACを大きくするとタッチ信号が減少します。V REF は1.2 〜(V DD –0.6)V の範囲内であることに注意してください。

    FSW

    センスクロック周波数

    センスクロック周波数を上げると、指のタッチ信号が増えます。ただし、センスクロックが速すぎると、CapSense センサの充放電が不十分になる可能性があります。詳細については AN85951 5.3.2.2.1センス時計関連パラメータを参照してください

    IMOD

    IDAC変調器

    変調器IDAC電流を増やすと、指のタッチ信号が減少します。rawカウントとベースラインへの影響に注意してください。変調器IDACを増やすと、Rawカウントが減少します。ベースラインは、フィルターの影響下でのrawカウントの変化に従います。

    ICOMP

    補正IDAC

    補正IDAC 電流を変更しても、指のタッチ信号は直接変更されません。しかし、それは rawカウントスロープを変更し、Cs にオフセットすることができます。AN85951の図5-12は、rawカウントと補正IDACの関係を説明しています。

    VDD

    供給電圧

    IDACソースモードの場合、VDD が常に V REF + 0.6V より高い場合、rawカウントおよびタッチ信号に影響はありません。IDACシンクモードの場合、VDD を変更すると、式(2)および(4)のようにタッチ信号が変更されます。

    注:この KBA は CapSense パラメーターを変更することによる raw カウントとタッチ信号への影響をまとめたものです。ただし、IDACの変化などのその他の副作用を考慮する必要があります。これにより rawカウントとベースライン飽和状態になり、センサの感度が低下します。詳細については、セールスおよびテクニカルサポートチームにお問い合わせください。

     

     

    参照:

    AN85951 - PSoC® 4 and PSoC® 6 MCU CapSense® Design Guide